Santec LCM-100 Launch Condition Meter
850 nm 및 1300 nm 광원과 파필드 측정을 이용해 광섬유 NA, MFD 및 AS100·AS62 런치 조건을 분석하는 광섬유 측정기
(Santec)
Santec LCM-100은 광섬유에서 출사되는 빛의 파필드(Far-field) 분포를 측정해 광섬유의 특성과 런치 조건을 분석하는 벤치탑 장비입니다. 전용 소프트웨어로 파필드 패턴을 스캔하고 그래프로 확인할 수 있으며, 측정된 광분포를 바탕으로 광섬유의 개구수(NA)를 분석하거나 삽입손실 시험에 사용되는 광원의 런치 조건이 요구 규격을 충족하는지 검증할 수 있습니다. 특히 ARP5061에 정의된 AS100 및 AS62와 같은 군수·항공우주 분야의 런치 조건을 확인할 수 있어 표준화된 광섬유 시험 환경 구축에 적합합니다.
LCM-100은 파필드 스캔 장치를 이용해 IEC 60793-1-45의 기준 측정법에 따라 싱글모드 광섬유의 모드 필드 직경(MFD)을 측정할 수 있으며, 자동 정렬과 초점 조절 기능으로 반복 측정 시 발생할 수 있는 광축과 초점 오차를 줄여줍니다. 구성에 따라 850 nm와 1300 nm LED를 내부에 장착할 수 있고, 105/125 µm 및 0.22 NA의 내부 광섬유를 사용해 다양한 오버필 조건 시험에 대응합니다. 기본 광학 인터페이스는 표준 2.5 mm 페룰을 지원하며, 다른 커넥터 크기도 요청에 따라 구성할 수 있어 광섬유 분석, 삽입손실 광원 적합성 시험 및 연구개발에 활용할 수 있습니다.
제품 주요 특징
■ LCM-100 광섬유 Launch Condition 측정 시스템을 통한 Far-Field 광 분포 및 Numerical Aperture 측정
■ ARP5061에 규정된 AS100 및 AS62 등 군사 표준 Launch Condition 검증 지원
■ 자동 정렬 및 초점 조절 기능을 통해 정확하고 반복성 높은 Near-Field 측정 가능
■ IEC 60793-1-45 기준에 따른 단일모드 광섬유의 Mode Field Diameter 측정
■ Encircled Flux 등 주요 Launch Condition Template과 측정 결과를 비교할 수 있는 분석 소프트웨어 제공
주요 어플리케이션
■ Fiber analysis
■ Insertion loss source compliance testing
■ R&D
제품 사양
| LCM-100 | ||
Far-field | |||
Optical / Electrical Specifications | |||
Scanning Range | ± 0.5 NA (± 0.5 rad) | ||
Scanning Resolution | 2.2 mrad | ||
Scanning Aperture | 0.22 NA | ||
Receiver Sensitivity (dBm) | 3 to -60 | ||
Receiver Wavelength Range (nm) | 850 to 1700 / 450 to 1100 | ||
Optical Power Resolution | 0.01 dB or 0.1% | ||
Measurement Linearity (dB) | ± 0.05 | ||
Scanning Speed (typical) (seconds) | 30 | 10 | |
Connector Interface | Universal 2.5 mm | ||
Internal LED (optional) | Wavelength (nm) | 850 / 1300 | |
Output Power (typical) (dBm) | -13 | ||
Connector Interface | FC/PC | ||
Data Interface | USB | ||
Power Supply | Input: 90 - 264 V AC, 43 - 63 Hz | ||
Mechanical / Environmental Specifications | |||
Unit Dimension W x H x D (cm) | 42.5 x 9.7 x 25.4 | ||
Operating Temperature (°C) | 0 to 50 | ||
준수 규격
■ IEC 60793-1-45 for MFD
