Deviser AE8700D-01 Optical Spectrum Analyzer
800~1650 nm 측정 범위와 0.01 nm 분해능, -85~+23 dBm 광레벨 및 최대 78 dB 동적 범위를 지원하는 WDM·레이저·EDFA 분석용 고성능 OSA
(Deviser Instruments)
Deviser AE8700D-01은 광통신 레이저와 고밀도 WDM 신호의 세부 스펙트럼을 정밀하게 분석하도록 설계된 회절격자 방식의 고분해능 광스펙트럼 분석기입니다. 800~1650 nm의 파장 범위와 0.01~1 nm의 가변 분해능을 지원하므로 가시광에 가까운 근적외선 영역부터 1310 nm 및 1550 nm 광통신 대역까지 하나의 장비로 측정할 수 있습니다. 최소 0.01 nm의 분해능은 서로 가까운 스펙트럼 피크와 레이저의 미세한 모드 구조를 구분하는 데 유리하며, 파장 정확도는 1520~1620 nm에서 ±0.01 nm, 1450~1520 nm에서 ±0.02 nm, 전체 측정 범위에서 ±0.05 nm를 제공합니다. 파장 반복성은 1분 기준 ±0.004 nm로, 동일 광원의 변화와 장기적인 파장 드리프트를 안정적으로 비교할 수 있습니다.
광레벨 감도는 1300~1620 nm에서 최대 -85 dBm, 1000~1300 nm에서 -70 dBm, 800~1000 nm에서 -55 dBm이며, 최대 +23 dBm의 입력 광파워를 지원합니다. 따라서 출력이 낮은 광부품 통과 신호부터 고출력 레이저와 광증폭기 출력까지 넓은 레벨 범위를 측정할 수 있습니다. 0.01 nm 분해능에서 주 피크로부터 ±0.1 nm 떨어진 신호는 55 dB, ±0.4 nm에서는 75 dB, ±1.0 nm에서는 78 dB의 동적 범위로 구분할 수 있어 강한 광채널 주변의 약한 스펙트럼 성분과 누설 신호를 정밀하게 확인할 수 있습니다. 자유공간 광입력 구조를 적용하여 단일모드 및 멀티모드 광섬유뿐만 아니라 최대 400 µm 코어의 광섬유에도 대응하므로, 다양한 빔 전달 방식과 광원 구성을 별도의 장비 없이 평가할 수 있습니다.
AE8700D-01은 레이저 스펙트럼과 WDM 및 EDFA 전용 시험 기능을 제공하며, 광원의 중심 파장, 선폭과 모드 특성, WDM 채널 간격, 광신호대잡음비, 광증폭기의 이득 특성과 출력 스펙트럼을 분석할 수 있습니다. 투과율 및 드리프트 시험과 다양한 변조 신호의 스펙트럼 측정에도 대응하며, 지정 조건에서 30 nm 스팬을 약 0.3초에 스캔하여 연구개발뿐만 아니라 반복 측정이 필요한 생산 검사에도 활용할 수 있습니다. 측정 전 충분한 예열과 파장 기준 광원을 이용한 정렬 및 교정을 통해 정밀도를 유지할 수 있으며, 10.1인치 터치스크린, 내부 저장장치, USB, LAN 및 RS232 인터페이스를 통해 독립형 측정과 자동화 시험 시스템 구성을 모두 지원합니다.
특징
■ 800–1650 nm 파장 범위를 지원하는 고성능 AE8700D 광스펙트럼 분석기(OSA)
■ 자유공간 광입력 설계로 SM 및 MM 광섬유 신호 모두 측정 가능
■ 0.01 nm(10 pm)의 높은 파장 분해능으로 정밀한 광스펙트럼 분석 지원
■ ±5 pm의 높은 파장 정확도 제공
■ −85 dBm부터 +23 dBm까지의 넓은 광파워 측정 범위
■ 일반적으로 80 dB의 넓은 Close-In Dynamic Range로 인접한 스펙트럼 신호 식별
■ 파장 및 광파워 측정 정확도를 유지하기 위한 Calibration Light Source 옵션
■ WDM, Laser 및 EDFA 전용 시험 모드 지원
■ 10.1″ 1280 × 800 TFT Touchscreen LCD를 통한 직관적인 장비 운용
■ LAN(RJ-45), USB, RS232 및 GP-IB 옵션을 통한 데이터 저장·외부 시스템 연결
■ 사용자 지정 Auto-Test Scenario를 통한 연구개발 및 생산검사 자동화 지원
